[image 00008] IAIP 2013年度第1回研究会案内「アルゴリズム」のお知らせ
UMEDA Kazunori
umeda @ mech.chuo-u.ac.jp
2013年 4月 23日 (火) 15:17:01 JST
image-MLの皆様
(管理者の皆様,MLの運営大変ありがとうございます)
中央大の梅田と申します.
精密工学会画像応用技術専門委員会(IAIP)委員長の輿水大和先生の代理で投稿
いたします.
IAIPでは,本年度は「IAIP再訪〜現場で鍛えられる/現場を支える画像技術〜」
という年間テーマの元,計5回の研究会を計画しております.
http://www.tc-iaip.org/
よろしくお願いいたします.
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2013年度第1回研究会を以下の内容で開催いたします.IAIP委員以外の方の聴講
費は2,000円(研究会報告代含む)です.ご興味をお持ちの方は是非ご参加下さい.
・IAIP委員以外の方は出来るだけ一週間前までに事務局に事前申込下さい.
(事前申込なしでも結構です)
・その他,事務的な問い合わせは事務局にお願いいたします.
公益社団法人 精密工学会
画像応用技術専門委員会 事務局(アドコム・メディア(株)内)
TEL : 03-3367-0571 FAX : 03-3368-1519
E-mail : iaip @ adcom-media.co.jp
******************************
1.日 時:2013年5月24日(金)午後2時より
2.場 所:東京電機大学 北千住キャンパス 1号館 1階 100周年ホール1/3北側
※今回はセキュリティーゲート外ですので、カードは不要です。
〒120-8551 東京都足立区千住旭町5番
当日連絡先 中村委員 TEL: 03-5284-5604 (ext.2609)
FAX: 03-5284-5698 (学科事務室)
e-mail: nkmr-a @ cck.dendai.ac.jp
3.話題提供 テーマ「アルゴリズム」
[1]講演(14:00〜14:50)
「SEMによる半導体デバイス三次元形状解析技術」
(株)日立製作所 横浜研究所 検査システム研究部
宮本 敦 氏
◆講演概要
半導体デバイスの大量生産を支える検査・計測技術として、回路パターンや
欠陥の三次元的な位置や形状を解析する画像処理アプリケーションについて
紹介する。
[2]研究報告(14:50〜15:15)
「周辺視と固視微動に学ぶ【傷の気付き】アルゴリズム」
中京大学 工学部 機械システム工学科 青木 公也 氏
◆研究報告概要
本報告では、今一度検査機械設計の道程を見直し、人の検査メカニズムに学
ぶことにより、様々な検査対象に通低した検査原理を考察する。
特に、その中で実装した 「傷の気付き」処理について解説する。
コーヒ−ブレイク(15:15〜15:25)
[3]講演(15:25〜16:15)
「FAにおける画像処理アルゴリズムの実利用」
オムロン(株)インダストリアルオートメーションビジネスカンパニー
アプリセンサ事業部 池田 泰之 氏
◆講演概要
製造業の現場における画像処理の実用について、アルゴリズムのラインナップ
と技術的特徴について説明する。またアルゴリズム選定におけるノウハウ体系
化の試みを紹介する。
[4]事例紹介(16:15〜16:40)
「現場で使える印刷品質検査装置ナビタスチェッカーフレックス」
ナビタスビジョンソリューション(株)代表取締役社長
辻谷 潤一 氏
◆事例紹介概要
印刷生産現場ではますます品質要求が厳しくなっていますが、印刷の伸びや
ばらつきに対し、独自の画像処理手法で過検出なく微細欠陥を検出する画期
的なシステムを実例を交えてご紹介する。
[5]報告(16:40〜16:50)
「第9回日仏メカトロニクス会議/
第7回ヨーロッパ・アジアメカトロニクス会議開催」報告
慶應義塾大学 村上 俊之 委員
[6]報告(16:50〜17:00)
「動的画像処理実利用化ワークショップDIA2013」報告
静岡大学 海老澤 嘉伸 実行委員長
東京大学 山下 淳 プログラム委員長
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梅田 和昇 (UMEDA Kazunori)
中央大学 理工学部 精密機械工学科
〒112-8551 東京都文京区春日1-13-27
Tel.(直通): 03-3817-1826 Fax.(学科): 03-3817-1820
E-mail: umeda @ mech.chuo-u.ac.jp
http://www.mech.chuo-u.ac.jp/umedalab/
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