[image 00412] IAIP 2013年度第5回研究会案内「三次元画像計測・処理」のお知らせ

2013年 12月 13日 (金) 20:05:17 JST

image-MLの皆様

中央大の梅田と申します．
精密工学会画像応用技術専門委員会（IAIP）委員長の輿水大和先生の代理で投稿
いたします．奮ってご参加下さい．

よろしくお願いいたします．

追伸：先週開催されたViEW2013では，435名もの方にご参加頂き，大変盛況に終
了いたしました．ご参加頂いた皆様，大変ありがとうございました．

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2013年度第5回研究会を以下の内容で開催いたします．IAIP委員以外の方の聴講
費は2,000円（研究会報告代含む）です．ご興味をお持ちの方は是非ご参加下さい．
・IAIP委員以外の方は出来るだけ一週間前までに事務局に事前申込下さい．
（事前申込なしでも結構です）
・その他，事務的な問い合わせは事務局にお願いいたします．
　　　　　
公益社団法人  精密工学会
画像応用技術専門委員会 事務局（アドコム・メディア（株）内）
　TEL : 03-3367-0571　FAX : 03-3368-1519
　E-mail : iaip ＠ adcom-media.co.jp
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１．日　時：２０１３年１月１７日（金）午後２時より

２．場　所：中央大学後楽園キャンパス　2号館2階2221号室
　　　　　　〒112-8551　東京都文京区春日1-13-27
　　　　　　http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/campusmap/korakuen_j.html
　　　　　　http://www.chuo-u.ac.jp/chuo-u/access/access_korakuen_j.html
　　　　　　当日連絡先　梅田委員 TEL: 03-3817-1826　
　　　　　　    　　　　　　  e-mail: umeda ＠ mech.chuo-u.ac.jp

３．	話題提供　テーマ「三次元画像計測・処理」

［１］講演（14：00～15：00）
　「多視点画像処理とカメラキャリブレーション」
　　　産業技術総合研究所 知能システム研究部門 タスクビジョン研究グループ
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　植芝　俊夫　氏　
　◆講演概要
　　本講演では、ステレオビジョンに代表される多視点画像からの3次元復元と
    それに不可欠なカメラキャリブレーション法について、主に幾何学的な観点
    からその技術的エッセンスを紹介する。また、参照パターンを必要としない
    カメラセルフキャリブレーションの数理的側面についても言及する。

　　　　　　コーヒ－ブレイク（15：00～15：10）

［２］講演（15：10～16：10）
　「大規模点群データに基づく認識とモデル化技術」
　　　電気通信大学　情報理工学研究科 　　　　　　　　　 増田　宏　氏

　◆講演概要
    近年、長距離を計測できるレーザースキャナの性能が向上したことにより
    高密度な3次元点群を短時間に取得できるようになってきた。本講演では、
    大規模な点群データの処理技術を解説すると共に点群処理技術がどのよう
    な応用分野で活用できるかを論じる。
　
［３］研究発表（16：10～16：40）
　「高精度ステレオ方式による高速マイクロバンプ測定装置MB-3000」
　　　東レエンジニアリング株式会社　開発部門　要素技術開発センター　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 鈴木　一嘉  氏
　◆研究発表概要
　　ステレオ方式のバンプ測定では、「対応点問題」や斜め撮影での「狭合焦
    範囲問題」があった。
　　弊社は照明配置・波長の工夫で対応点問題を克服し、特殊結像レンズの
    開発で狭合焦範囲問題を克服した。

［４］報告（16：40～16：50）
　「ViEW2013 ビジョン技術の実利用ワークショップ報告」
 　　　中央大学　　　　　　　　　　　　　　　  梅田　和昇 実行委員長

［５］報告（16：50～17：00）
　「外観検査アルゴリズムコンテスト2013審査報告」　　
　　　 徳島大学　　　　　　　　　　　　      　寺田 賢治 実行委員長
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梅田 和昇 (UMEDA Kazunori)
中央大学 理工学部 精密機械工学科
〒112-8551　東京都文京区春日1-13-27
Tel.(直通): 03-3817-1826   Fax.(学科): 03-3817-1820
E-mail: umeda ＠ mech.chuo-u.ac.jp
http://www.mech.chuo-u.ac.jp/umedalab/