[image 00765] [本日締切]外観検査アルゴリズムコンテストへの参加のお誘い

[Terachan]

image-ML 関係各位

お世話になっております．
外観アルコン実行委員長の寺田＠徳島大学と申します．

下記に関しまして，本日，エントリー締切「予定日」です．
http://www.tc-iaip.org/alcon/

コンテストの詳細はメール末尾のとおりですが，対象が，
貴重な産業現場からの「生」欠陥画像となっており，
この機会を逃すと二度と手に入らないかも知れません．

エントリーすることでサンプル画像を download できます．
「匿名」でのエントリーも可能ですが，実名で登録されても，
その登録者情報は，実行委員会内でも完全非公開であり，
・作品に関するお問い合わせ
・表彰対象となったときのご連絡
以外，使用はしません．

大急ぎで「ご登録」だけでもと思います．
http://www.tc-iaip.org/alcon/

＜精密工学会 画像応用技術専門委員会＞―――――――――――――――――

　　　　　　　外観検査アルゴリズムコンテスト2014

――――――――――――――――――＜ http://www.tc-iaip.org/alcon/ ＞
■ 課題：鋳造部品の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出
■ 内容：鋳造部品の表面を，なめるように連続的に撮影していった画像群
　　　　 から欠陥を検出する
■ エントリーの〆切：2014年 8月 1日(金)
■ 作品の提出の〆切：2014年 9月26日(金)
■ 結果発表・表彰式：2014年12月 4日(木) ViEW2014 に於いて
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画像応用技術専門委員会では，外観検査技術の発展を図るため，研究者・技術
者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進めつつ，その一環とし
て外観検査アルゴリズムコンテストを2001年より実施しております．お陰様で
実際の製造現場で生じる画像を『そのまま使用』，さらに『性能だけで評価』
と言う他に例を見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようにな
り，ここ数年は，プロから学生まで，参加者が約150名を超えてております．

さて第14回の今回は，昨年度をさらにバージョンアップしました「鋳造部品
の表面を連続的に撮影した画像系列からの欠陥検出」アルゴリズムのコンテ
ストを実施することになりました．昨年度は1枚からの画像からの欠陥抽出
だったものを，本年度は，検査員の作業を模倣した対象物体をなめるように
撮影した画像群からの欠陥抽出となります．対象画像群は工場において製造
された鋳造部品を撮影したものであり，特に不良品画像などは，本来，世の
中には出回らないとても貴重なものです．エントリーすることでテスト用の
画像群と正解データを download できます．多数のご参加をお待ちしており
ます．なお匿名での登録も可能です．

詳細は website をご覧下さい（検索例 : 外観 アルコン）．

以上，よろしくお願いします．
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~~)(_^ + _" terada ＠ is.tokushima-u.ac.jp
 (  _) | _  http://www-b1.is.tokushima-u.ac.jp/~terada