[image 01937] ViEW2016 講演募集のご案内（締切9/16）

[渋谷久恵 / SHIBUYA，HISAE]

image ML各位

【複数MLに投稿させていただいております．ご了承ください】

（株）日立製作所の渋谷久恵と申します．ViEW2016の実行委員長を仰せつかっております．
例年12月にパシフィコ横浜で開催しておりますビジョン技術の実利用ワークショップViEW2016の
講演募集のご案内をお送りします．

ViEWは画像応用に関する実用的な研究内容を指向したワークショップであり，今年は12月8, 9日
に開催いたします．パシフィコ横浜では，同じタイミングで国際画像機器展も開催されます．


■講演募集
「ViEW2015 ビジョン技術の実利用ワークショップ」
http://www.tc-iaip.org/view2016/
開催日：2016年12月8日(木)，9日(金)
会場：パシフィコ横浜 アネックス・ホール

講演申込締切： 2016年9月16日(金)
講演採択通知： 2016年10月11日(火)
原稿提出締切： 2016年10月28日(金)

講演申込みの際には概要(A4二枚程度)をご提出いただきます．
詳しくはこちらをご覧ください。
http://www.tc-iaip.org/view2016/contents/presentation.html

※今年も2ページのダイジェスト原稿からなる印刷版予稿集と4〜8ページのフルレングス原稿からなる
電子版講演論文集を発行します．

※ViEW2016では，優秀な研究発表には「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を，優秀な若手研究発表者
には「画像応用技術専門委員会 ViEW若手奨励賞」 をそれぞれ授与しています。前者は一般講演のすべて，
後者は，2016年12月9日に35歳以下の発表者が対象となります．皆様のご投稿をお待ちしております．


以下はワークショップのお知らせです．

■ViEW2016「変革をもたらすViEW」ご挨拶
ViEW (Vision Engineering Workshop) は，1989年に外観検査の自動化ワークショップとしてスタートし，
四半世紀に亘り日本における画像処理技術の発展に貢献してきました．2003年よりビジョン技術の
実利用ワークショップと名称を変え，外観検査技術に留まらず，その対象分野を貪欲に広げ，
現在では極めて幅広い分野をカバーしています．時代の要請に応じて変化しつつ，一貫して産業応用への
貢献を第一義としています．
ViEWは，多様な発表形式が大きな特徴となっています．オーラル講演，インタラクティブ
講演，ハイブリッドオーラル講演を準備し，一般講演者にとって可能な限り最適な形式で
発表できる場を提供しています．また，基調講演とオーラル講演とハイブリッドオーラル講演を
組み合わせたハイブリッドセッションは，ViEW独特のものです．さらに，インタラクティブセッション，
特別講演とスペシャルセッションを加えてシングルトラックで構成しており，参加者全員が全ての
講演を聴講・議論し，最新の情報を共有することができます．例年，約100件の講演に対し，
500名程度の皆様にご参加頂いております．

今年も，産・官・学のすべての研究者，技術者ばかりでなく画像処理とその応用技術に関心をお持ちの
皆様の参加を心からお待ち申し上げております．

■参加申込み：
ウェブ事前登録の場合（11月8日まで）
学生； 5,000円
一般講演者，精密工学会会員，協賛組織会員： 20,000円
その他： 25,000円

ウェブ登録の場合（12月5日まで）
学生： 6,000円
一般講演者，精密工学会会員，協賛組織会員： 21,000円
その他： 26,000円

当日登録の場合（12月8，9日）
学生： 10,000円
一般講演者，精密工学会会員，協賛組織会員： 25,000円
その他： 30,000円

※本年より，開催直前の事務処理集中を避けるため事前登録制度を導入させていただきました．
ご理解の上早目のご参加登録をお願いいたします。

詳しくはこちらをご覧ください。
http://www.tc-iaip.org/view2016/contents/participation.html

■スコープ：ワークショップの募集する対象分野を示します．
ただし，応募対象はこれらに限られるものではありません．

［技術］

?画像パターン認識 
?3次元画像処理，距離画像認識 
?イメージセンサ，デバイス 
?画像処理ハードウェア，アーキテクチャ 
?光学的画像処理・計測 
?動画像処理 
?大規模データ画像解析 
?感性画像処理 
?その他，画像処理基礎理論

［応用］
?外観検査，欠陥検査，非破壊検査 
?ロボット，マシンビジョン 
?セキュリティ応用 
?バイオメトリクス 
?高度情報交通システム，運転支援 
?環境認識，実環境センシング 
?映像情報処理，メディア処理 
?医療，生体 
?ヒューマンインターフェース 
?スポーツ，エンターテインメント 
?VR，AR 
?その他，画像技術の実用的応用

■主催： 公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会

■共同企画：
大規模環境の３次元計測と認識・モデル化技術専門委員会（精密工学会）
非整備環境現場に駆動されたパターン認識技術の応用協同研究委員会(電気学会)
スマートビジョンの適用範囲拡大協同研究委員会(電気学会)
知覚情報センシングおよび融合化技術の実利用化協同研究委員会(電気学会)
パターン計測部会(計測自動制御学会) 
製造工程検査部門(日本非破壊検査協会)

■協賛：電気学会，計測自動制御学会，情報処理学会，日本ロボット学会，電子情報通信学会，
エレクトロニクス実装学会，センシング技術応用研究会，日本電気制御機器工業会，
日本非破壊検査協会，画像センシング技術研究会，映像情報インダストリアル

■国際画像機器展(12月7，8，9日)
連絡先：アドコム・メディア　Tel：03-3367-0571

ViEW2016実行委員長　渋谷久恵
ViEW2016プログラム委員長　満倉靖恵