[image 03585] QCAV 2019 - CFP Special JEI Section

[UMEDA Kazunori]

image-mlの皆様

梅田＠中央大と申します．お世話になっております．

5月にフランス・Mulhouseで開催されましたQCAV2019に関連してJournal Of Electronic 
Imaging (JEI)で企画されている特集号の案内をお送りします．
JEIは，SPIEが出版している雑誌で，Impact Factorも付与されています．
https://www.spiedigitallibrary.org/journals/journal-of-electronic-imaging/scope-and-details?SSO=1

論文投稿の詳細は
https://www.spiedigitallibrary.org/journals/journal-of-electronic-imaging/call-for-papers#navBarAnchor
をご覧下さい．
9/1投稿締切です．投稿は，QCAV2019の発表論文に限っておりません．主たる対象分野は以下の通りです．

non-conventional imaging for inspection and control, deep learning for 
quality control by vision, 3-D vision systems, management of big data 
images for deep learning in industry and control, metrology, vision and 
robotic, automation of images analysis in medicine and biology, 
real-time image analysis processing, light-field imaging, polarimetry 
imaging.

是非投稿をご検討下さい．

よろしくお願いいたします．
-- 
梅田 和昇 (UMEDA Kazunori)
中央大学 理工学部 精密機械工学科
〒112-8551　東京都文京区春日1-13-27
Tel.(直通): 03-3817-1826   Fax.(学科): 03-3817-1820
E-mail: umeda ＠ mech.chuo-u.ac.jp
http://www.mech.chuo-u.ac.jp/umedalab/