[image 01385] ViEW2015 講演申込のご案内(締切は9/14です)

渋谷久恵 / SHIBUYA,HISAE hisae.shibuya.mp @ hitachi.com
2015年 8月 19日 (水) 11:44:35 JST


image ML各位
【複数MLに投稿させていただいております.ご了承ください】

(株)日立製作所の渋谷久恵と申します.ViEW2015の実行委員長を仰せつかっております.

例年12月にパシフィコ横浜で開催しておりますViEW2015の講演募集のご案内をお送りします.
今年は12月3, 4日の開催です.
http://www.tc-iaip.org/view2015/

ViEWは画像応用に関する実用的な研究内容を指向したワークショップで,
発表件数100件程度,参加者数500名近くの規模です.
なお,同じタイミングで,国際画像機器展も開催されております.

講演申込み〆切が9月14日(月)となっております.
この段階ではA4 2枚の講演概要をお送り頂くこととなっております.
詳しくは
http://www.tc-iaip.org/view2015/contents/submit.html
をご覧下さい.

また,特別講演として梅崎太造先生(名古屋工業大)を予定しております.
ご期待下さい.

さらに,ViEW2015では,若手研究者による優秀な発表に対してViEW若手奨励賞を授与します.
なお,ViEW若手奨励賞は,2015年12月4日に35歳以下の発表者が該当します.

奮ってご投稿下さい!

【ViEW2015のお知らせ】

■講演募集
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「ViEW2015 ビジョン技術の実利用ワークショップ」
http://www.tc-iaip.org/view2015/
開催日:2015年12月3日(木),4日(金)
会場:パシフィコ横浜 アネックス・ホール

講演申込締切: 2015年9月14日(月)
講演採択通知: 2015年10月5日(月)
原稿提出締切: 2015年10月23日(金)
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●ViEW2015「現場に根付く画像応用技術」
ViEW (Vision Engineering Workshop) は,1989年に外観検査の自動化ワークショップ
としてスタートし,四半世紀に亘り日本における画像処理技術の発展に貢献してきました.
2003年よりビジョン技術の実利用ワークショップと名称を変え,外観検査技術に留まらず,
その対象分野を貪欲に広げ,現在では極めて幅広い分野をカバーしています.時代の要請に
従い変化しつつ,一貫して産業応用への貢献を第一義としています.
ViEWは,多様な発表形式が大きな特徴となっています.オーラル講演,インタラクティブ
講演,ハイブリッドオーラル講演を準備し,一般講演者にとって可能な限り最適な形式で
発表できる場を提供しています.優秀な研究発表には「画像応用技術専門委員会 小田原賞」
を授与しています.また,基調講演とオーラル講演とハイブリッドオーラル講演を組み合わせた
ハイブリッドセッションは,ViEW独特のものです.さらに,インタラクティブセッション,
特別講演とスペシャルセッションを加えてシングルトラックで構成しており,参加者全員が全ての
講演を聴講・議論し,最新の情報を共有することができます.例年,約100件の講演に対し,
500名近くの皆様にご参加頂いております.
今年も,産・官・学のすべての研究者,技術者ばかりでなく画像処理とその応用技術に関心を
お持ちの皆様の参加を心からお待ち申し上げております.

●講演申込み:概要(A4二枚程度)を提出いただきます.
講演申込締切: 2015年9月14日(月)
講演採択通知: 2015年10月5日(月)
原稿提出締切: 2015年10月23日(金)
※昨年に引き続き,印刷版予稿集はダイジェスト原稿を発行します.
フルレングス原稿に関しては電子版講演論文集とし,ページ数は最低4ページ,
最大8ページとなります.投稿する方々の原稿執筆の自由度が向上します.

●参加申込み:
講演者,精密工学会会員,協賛組織会員: 20,000円
その他,一般の方: 25,000円
学生の方: 5,000円

ViEW2015ホームページ http://www.tc-iaip.org/view2015/ からオンラインで
お申し込み頂けます.詳しくは上記 URLをご覧下さい.

●スコープ:ワークショップの募集する対象分野を示します.
ただし,応募対象はこれらに限られるものではありません.

[技術]
・画像パターン認識
・3次元画像処理,距離画像認識
・イメージセンサ,デバイス
・画像処理ハードウェア,アーキテクチャ
・光学的画像処理・計測
・動画像処理
・大規模データ画像解析
・感性画像処理
・その他,画像処理基礎理論

[応用]
・外観検査,欠陥検査,非破壊検査
・ロボット,マシンビジョン
・セキュリティ応用
・バイオメトリクス
・高度情報交通システム,運転支援
・環境認識,実環境センシング
・映像情報処理,メディア処理
・医療,生体
・ヒューマンインターフェース
・スポーツ,エンターテインメント
・その他,画像技術の実用的応用

●主催: 公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会

●共同企画:大規模環境の3次元計測と認識・モデル化技術専門委員会(精密工学
会),非整備環境に駆動されたパターン認識技術協同研究委員会,スマートビジョ
ンの適用範囲拡大協同研究委員会,知覚情報センシングおよび融合化技術の実利用
化協同研究委員会(電気 学会),パターン計測部会(計測自動制御学会),製造工程
検査部門(日本非破壊検査協会)

●協賛:電気学会,計測自動制御学会,情報処理学会,日本ロボット学会,電子
情報通信学会,エレクトロニクス実装学会,センシング技術応用研究会,日本電
気制御機器工業会,日本非破壊検査協会,画像センシング技術研究会,映像情報
インダストリアル

●国際画像機器展(12月2,3,4日)
連絡先:アドコム・メディア Tel:03-3367-0571

●実行委員会:渋谷久恵(日立製作所:委員長),滝本裕則(岡山県立大:幹事),
青山正人(広島市立大:幹事補佐),浮田浩行(徳島大:幹事補佐),子安大士(東
京農工大:幹事補佐),伊藤伸一(徳島大),岩崎准一(北海道電力),岩田健司(産
総研),榎本洸一郎(新潟大),海老澤嘉伸(静岡大),大橋剛介(静岡大),後藤邦
博(豊田中研),斎藤英雄(慶應大),佐藤雄隆(産総研),清水毅(山梨大),諏訪正
樹(オムロン),高氏秀則(北海学園大),塚田敏彦(豊田中研),寺林賢司(静岡大),
中川康紀(LG Electronics Japan Lab),中村明生(東京電機大),野口稔(日立ハ
イテクノロジーズ),野村安國(東京ウエルズ),原田実(日立製作所),深井寛修
(明電舎),藤大樹(日立製作所),藤原伸行(明電舎),増山岳人(中央大),満倉
靖恵(慶應大),山口友之(筑波大)

●プログラム委員会:加藤邦人(岐阜大:委員長),飛谷謙介(関西学院大:幹事),
青木公也(中京大:幹事補佐) ,小室孝(埼玉大:幹事補佐),齊藤剛史(九州工業
大:幹事補佐),青木広宙(千歳科技大),青木義満(慶應大),明石卓也(岩手大),
石井明(香川大),井尻善久(オムロン),入江耕太(日立オートモティブシステムズ
),大城英裕(大分大),荻内康雄(住友電工),金井理(北大),川西亮輔(三菱電機),
楜澤信(旭硝子),小谷信司(山梨大),小林貴訓(埼玉大),駒野目裕久(池上通信機),
佐藤洋一(東大),下村倫子(日産自動車),菅野純一(ヴィスコ・テクノロジーズ),
高橋悟(香川大),田中敏幸(慶應大),寺田賢治(徳島大),戸田真志(熊本大),中島
慶人(電力中研),中野倫明(名城大),中野宏毅(日本IBM),橋本学(中京大),広
瀬修(住友化学),藤吉弘亘(中部大),藤原孝幸(北海道情報大),増田宏(電通大),
村瀬洋(名古屋大),望月貴裕(NHK技研),山口修(東芝),山口順一(香川大),山下
淳(東大),山下隆義(中部大),横田秀夫(理研),横野順(ソニー)

●アドバイザリーボード:斎藤之男(芝浦工大),石井明(立命館大),岡昌世(
元池上通信機),秦清治(香川大),原靖彦(日大),輿水大和(中京大),金子
俊一(北大),山本和彦(岐阜大),橋本周司(早稲田大),坂上勝彦(産総研),
菅泰雄(慶應大)

●組織委員会:梅田和昇(中央大:委員長),林純一郎(香川大学:共同企画委員長),
浅野敏郎(広島工大),伊藤裕(東京電機大),恩田寿和(明電舎),梶谷誠(電通大),
北川克一(元東レエンジニアリング),肥塚哲男(富士通研),豊田康隆(日立製作所),
谷口倫一郎(九大),服部真之(パナソニックデバイスSUNX),前田祐司(元電通大),
村上俊之(慶應大),森野比佐夫(ファースト)
ViEW2015実行委員長 渋谷久恵


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