[image 04946] 【ハイブリット】IAIP2022年度第5回研究会「検査・異常検知」のご案内

[Kenji Terada]

image-ML 関係各位

お世話になっております．
寺田＠徳島大学と申します．

あけましておめでとうございます．本年もよろしくお願いします．

さてIAIP(精密工学会 画像応用技術専門委員会)2022年度第5回研究会「検査・異
常検知」を対面／オンラインの【ハイブリット】で開催いたします．本分野は，
まさに古くて新しい分野でありますが，このたびは，最先端の検査・異常検知手
法や様々な応用のご講演に加え，基礎と応用がわかるミニ講義を揃えました．是
非，ご聴講いただければと思います．

＜IAIP研究会＞―――――――――――――――――――――――――――――

　　　　　　　　【ハイブリット】IAIP 2022年度 第5回研究会

　　　　　　　　　　　　　　〜　検査・異常検知　〜

　　　　　　　　　　　2023年1月20日(金) 14:00-17:00

　　　　　　　　　　　　　　　 ＜対面＞
　　　　　　　中央大学後楽園キャンパス　2号館2階2221号室
　　　　　　　　　〒112-8551　東京都文京区春日1-13-27　
　　　　　　　　https://www.chuo-u.ac.jp/access/kourakuen/
　　　　　　　　　　　　　　　＜オンライン＞
　　　　　　　　　　　　　https://iaip.itlab.org/r/
　　　　　　　　　（詳細は折り返しメールでご連絡いたします）
　
　　　　　　　 主催：IAIP(精密工学会 画像応用技術専門委員会)

―――――――――――――――――＜ http://www.tc-iaip.org/research/ ＞
2022年度IAIP第5回研究会を，2023年1月20日(金)14:00より【ハイブリット】で
開催いたします．現地にお越しいただくか，オンラインでの聴講が可能です．
IAIP会員の方は無料，IAIP会員以外の方の視聴費は2,000円（研究会報告代含
む）です．
●参加ご希望の方は以下からお申込み下さい．リモートをご希望の方は，折り返
　し接続方法等をお知らせいたします⇒https://iaip.itlab.org/r/
●詳細はこちらをご覧ください⇒ http://www.tc-iaip.org/research/
●IAIP会員(年会費：個人5,000円，法人60,000円)になりますと，2か月ごとに
　開催されている研究会の聴講費が無料となります．ご入会お待ちしてます
　⇒ http://www.tc-iaip.org/guidance/
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■ 企画意図：ものづくりの現場では設備の点検や製品の検査に伴う作業負荷や
人材不足が長年の課題となっており、検査や異常検知の自動化が強く求められて
います。今回は異常検知に関して技術動向に関するご講演と現場へのシステム導
入に関するご講演を予定しております。また製品の自動外観検査に関する講義も
していただく予定です。
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■ 話題提供(敬称略)
[講演]音と振動からの異常検知の技術動向
　　　　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・速水悟(早大)
[講演]状態監視保全を実現する予兆診断技術
　　　　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・渋谷久恵(日立)
[ミニ講義]周波数情報を用いた画像認識
　　　　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・浅野敏郎(広工大)
[報告]外観検査アルゴリズムコンテスト2022開催報告
　　　　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・寺田賢治(徳島大)
[報告]ViEW2022ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告
　　　　・・・・・・・・・・・・・・・ 青木義満(慶大) ，門馬英一郎(日大)
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■ ［１］講演（14：00〜14：55）
「音と振動からの異常検知の技術動向」
　　　　　　　早稲田大学研究院教授 GCS 研究機構上級研究員　速水 悟 先生
◆講演概要
音と振動からの異常検知の基本的な手法と技術動向を解説します。 機械装置へ
の適用事例と機械音からの異常検知の国際的な技術コンペ (2020,2021,2022) を
紹介します。
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■［２］講演（15：05〜16：00）
「状態監視保全を実現する予兆診断技術」
　　　 株式会社日立製作所 研究開発グループ
　　　 制御・ロボティクスイノベーションセンタ 制御AI研究部　渋谷 久恵 様

◆講演概要
状態監視保全のキーとなる予兆診断は各社AIの導入が進み、日立もシステム製品
をリリースしている。 本講演では「いつもと違う」を検知する基本技術、シス
テム導入前後の課題と解決策について述べる。
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■［３］ミニ講義（16：10〜16：40）
　「周波数情報を用いた画像認識」
　　　　　　　　　　　　　　　　　 広島工業大学 名誉教授　浅野 敏郎 先生
◆講演概要
外観検査などで、位置濃淡情報のみでは認識が困難な問題でも、空間周波数情報
を用いて容易に問題を解くことができる場合がある。 パワースペクトルや位相
情報を用いた認識・照合技術について紹介する。　　　
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■［４］報告（16：40〜16：50）
　「外観検査アルゴリズムコンテスト2022開催報告」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 徳島大学　寺田　賢治 実行委員長　　
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■［５］報告（16：50〜17：00）
　「ViEW2022ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　 慶應義塾大学　青木　義満 実行委員長
　　　　　　　　　　　　　　　　 日本大学　門馬　英一郎 プログラム委員長
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■ 問合せ先
公益社団法人 精密工学会
画像応用技術専門委員会 事務局（アドコム・メディア（株）内）
　TEL : 03-3367-0571　FAX : 03-3368-1519
　E-mail : iaip ＠ adcom-media.co.jp
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以上，です
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~~)(_^ + _" terada ＠ is.tokushima-u.ac.jp
 (  _) | _  http://www-b1.is.tokushima-u.ac.jp/~terada