[image 04045] 【締切迫る】外観検査アルゴリズムコンテストへの参加のお誘い
Kenji Terada
terada @ tokushima-u.ac.jp
2020年 8月 6日 (木) 12:00:12 JST
image-ML 関係各位
お世話になっております.
寺田@徳島大学と申します.
COVID-19 で大変な中,失礼します.
下記に関し,エントリーの〆切が迫ってきましたので,ご連絡いたします.
匿名での参加も可能ですので,まずはご登録いただいて,
正解付き画像データだけでもご覧ください.
website⇒ http://www.tc-iaip.org/alcon/
概要説明(YouTube)⇒ https://youtu.be/OL213cJeT1U
<精密工学会 画像応用技術専門委員会>―――――――――――――――――
外観検査アルゴリズムコンテスト2020
――――――――――――――――――< http://www.tc-iaip.org/alcon/ >
■ 課題:X線CTによる工業製品の内部検査
〜ボクセルデータからの形状と材質の分類〜
■ 内容:X線CTによって得られるボクセルデータからの形状と材質の分類
■ エントリーの〆切:2020年 8月 7日(金)
■ 作品の提出の〆切:2020年 9月25日(金)
■ 予稿(2頁)の〆切:2020年10月16日(金)
■ 結果発表・表彰式:2020年12月 3日(木) ViEW2020 に於いて
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外観検査技術の発展を図る目的で,2001年より実施しております.お陰様で,
『実際の製造現場で生じる画像を使用』,『性能だけで評価』と言う他に例を
見ないユニークなコンテストとして広く認知されるようになり,例年,プロか
ら学生までの参加者が約150名となっております.
さて第20回の課題は,「X線CTによる工業製品の内部検査〜ボクセルデータから
の形状と材質の分類〜」で, 容器内部に混在する様々な部品の個数を計測する
画像処理コンテストです.貴重な画像データ群(各画像,専門家が作成した貴重
な正解データ付)はエントリーいただくことでご覧になれますので,まずはご登
録をお願いいたします(匿名での登録も可能です).
詳細は website をご覧下さい(検索例 : 外観 アルコン).
以上,よろしくお願いします.
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~~)(_^ + _" terada @ is.tokushima-u.ac.jp
( _) | _ http://www-b1.is.tokushima-u.ac.jp/~terada
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